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x射線熒光鍍層測厚儀 鍍層測厚儀器 X射線熒光光譜儀
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產(chǎn)品描述

分析范圍0-50微米 分析精度5% 較薄測試0.005微米 儀器架構(gòu)上照式 儀器重量90公斤 分析時間30S
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
昆山市市場局通過走訪座談、問卷調(diào)查等方式,篩選了多家企業(yè),選取了天瑞儀器作為商業(yè)秘密示范點(diǎn)建設(shè)單位。會上,市場局就我公司成為昆山商業(yè)秘密保護(hù)示范點(diǎn)給予了充分肯定和高度評價,并為構(gòu)建完善的商業(yè)秘密保護(hù)系統(tǒng)提出了寶貴的意見和建議,旨在進(jìn)一步加強(qiáng)對商業(yè)秘密的管理,以促進(jìn)我公司健康、穩(wěn)步、飛躍發(fā)展。
x射線熒光鍍層測厚儀
測厚儀產(chǎn)品特性
★進(jìn)口高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標(biāo)定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機(jī),數(shù)據(jù)實(shí)時顯示、自動統(tǒng)計、打印,方便快捷地獲取測試結(jié)果
★打印值、小值、平均值及每次測量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動保存多100組測試結(jié)果,隨時查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測厚儀配備自動進(jìn)樣器,可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動多點(diǎn)測量,人為誤差小
★軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析,準(zhǔn)確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
x射線熒光鍍層測厚儀
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
x射線熒光鍍層測厚儀
此次天瑞儀器授牌為商業(yè)秘密保護(hù)示范點(diǎn),將有效地加大公司商業(yè)秘密保護(hù)力度,切實(shí)保護(hù)公司商業(yè)秘密核心知識產(chǎn)權(quán),更好的推動公司的創(chuàng)新發(fā)展。今后,天瑞也將發(fā)揮出示范作用,配合,推進(jìn)更多示范點(diǎn)建設(shè),共同做好商業(yè)秘密保護(hù)工作。
2017年3月,收購磐合科儀。
http://91ycyl.com
產(chǎn)品推薦

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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